徠卡Leica顯微鏡DM4M觀察方式

更新時間：2020-12-22

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徠卡DM4M研究級半自動智能數(shù)字式正置金相顯微鏡，適合金屬、陶瓷、高分子材料、電子元器件、粉塵顆粒等樣品的觀察分析。模塊化設(shè)計，可實現(xiàn)反射觀察、透反射觀察配置。

徠卡DM4M的觀察方式可實現(xiàn)入射光和透射光觀察，下面我們來進行分析。

一、入射光

明場 (IL)

• 按下TL/IL功能鍵，即可切換至入射光軸

(IL)。

• 選定BF（明場）觀察方法按下BF可變功能鍵即可實現(xiàn)此操作。或者，按下可變功能鍵CHANGE RL 。（有關(guān)功能鍵配置，參見“說明表”。）屏幕將顯示BF。

• 插入一個樣本。

• 將適當(dāng)物鏡轉(zhuǎn)動到位。

• 利用調(diào)焦旋鈕對圖像進行聚焦，并通過INT功能鍵設(shè)定亮度。

每個物鏡的亮度值將被存儲下來。

暗場（lL）

按下TL/IL功能鍵，即可切換至入射光軸(IL)。

• 按下可變功能鍵DF，即可選擇DF（暗場）觀察方法。或者：按下可變功能鍵CHANGE RL (有關(guān)功能鍵配置，參見“說明表”。)屏幕將顯示DF。

將DF（暗場）反光鏡旋入光束通路中。

• 插入一個樣本。

• 將適當(dāng)物鏡轉(zhuǎn)動到位。

• 利用調(diào)焦旋鈕對圖像進行聚焦，并通過INT功能鍵設(shè)定亮度。

偏光 (IL)

• 按下TL/IL功能鍵，即可切換至入射光軸(IL)。

• 按下可變功能鍵POL，即可選定POL（偏光）觀察方法。或者，按下可變功能鍵CHANGE TL （有關(guān)功能鍵配置，參見“說明表”。）

屏幕將顯示POL。

微分干涉觀察法 (RL)

• 按下TL/IL功能鍵，即可切換至入射光軸(IL)。

• 插入一個樣本，并將適當(dāng)?shù)奈镧R旋轉(zhuǎn)到位。

• 選擇DIC觀察法。

按下DIC可變功能鍵即可實現(xiàn)此操作。或者：按下可變功能鍵CHANGE TL （有關(guān)功能鍵配置，參見“說明表”。）

屏幕將顯示ICR。

二、透射光

明場 (TL)

• 按下TL/IL功能鍵，即可切換至透射光軸(TL)。

• 選定BF（明場）觀察方法按下BF TL可變功能鍵即可實現(xiàn)此操作。有關(guān)功能鍵配置，參見“說明表”。

屏幕將顯示BF TL。

• 插入一個透射光樣本。

• 將適當(dāng)物鏡轉(zhuǎn)動到位。

• 利用調(diào)焦旋鈕對圖像進行聚焦，并通過INT功能鍵設(shè)定亮度。

偏光 (TL)

• 按下TL/IL功能鍵，即可切換至透射光軸(TL)。

• 選擇POL（偏光）觀察法。

• 將顯微鏡架左側(cè)的檢偏鏡推入光束通路中。

•將聚光鏡底部的起偏鏡轉(zhuǎn)入光路中。確保起偏鏡前方的紅色指示點位于0的位置。

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